光学顕微鏡
型式 |
オリンパス 金属顕微鏡BX-51 |
照明 |
落射,透過 |
空間分解能 |
実働 500 nm程度 |
備考 |
微分干渉観察可能 |
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表面粗さ測定機
型式 |
小坂研究所 Surfcorder SE-300 |
測定範囲 |
Z:800 μm |
測定分解能 |
Z:0.0064 μm |
最大測定長さ |
25 mm |
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原子間力顕微鏡(AFM)
型式 |
Thermomicroscopes, Autoprobe |
測定モード |
Contact/Non-Contact |
空間分解能 |
30 nm 程度 |
備考 |
STM mode可能 |
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モノクロメータ
型式 |
日本分光(分光計器) CT-25C |
測定波長帯域 |
0.2 μm - 50 μm (回折格子による) |
波長分解能 |
0.04 nm |
精度 |
0.1 nm |
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フーリエ変換赤外分光光度計 (FT-IR)
型式 |
日本分光 FT/IR 6600 |
測定波数 |
7800 - 350 cm-1 |
分解能 |
0.4 cm-1 |
測定方法 |
透過,反射,ATR |
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パイロ検出器
型式 |
CDP Corp. PD-1 |
測定周波数 |
0.02 - 3 THz |
変調周波数 |
5-30 Hz |
応答速度 |
25 ms |
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赤外サーモグラフィ
型式 |
日本アビオニクス TVS-8500 |
フレームレート |
1/120 s |
測定波長 |
3.5-4.1 μm, 4.5-5.1 μm |
空間分解能 |
10 μm |
温度分解能 |
0.025 K |
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