パッシブ型THz近接場顕微鏡(1号機) 初代のパッシブ型THz近接場顕微鏡.2009年プロトタイプが完成. 検出器として世界最高感度のCSIP(Charge Sensitive Infrared Phototransistor)を利用し,空間分解能を大幅に向上させるため,散乱型近接場顕微光学系(Scattering-type Scanning Near-field Optical Microscope: s-SNOM)を導入している.
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パッシブ型THz近接場顕微鏡(2号機) 構築中.英国QMC社のコンパクトクライオスタットを使用. 検出器集光部に固体浸レンズ(Solid Immersion Lens, SIL)を採用し,S/Nの向上を図っている.
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パッシブ型THz近接場顕微鏡(3号機) 装置の製品化へ向けて,JST先端計測・機器開発プロジェクト(2012.10 - 2016.3)にて開発.東京インスツルメンツ(株)と共同開発. 機械式冷凍機を採用して液体ヘリウムの供給環境が無いユーザーにも対応させている.また,対物レンズとしてカセグレン式反射対物レンズを採用し,背景輻射の影響をほとんどゼロに抑えている.
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極低温THz近接場顕微鏡(4号機) 極低温(4.2K)の興味深い物性を探るため,試料と光学系を全て低温チャンバ内に組み込んだ顕微鏡.SNOMだけではなく,STMの機能も付与.JST産学共創プロジェクト(2015.10 -)にて開発中.
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引張試験機 引張方向以外の歪みを最大限抑制した試験機. 重ね継手,突合せ継手の試験が可能.
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光学顕微鏡
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表面粗さ測定機
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原子間力顕微鏡(AFM)
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モノクロメータ
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フーリエ変換赤外分光光度計 (FT-IR)
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パイロ検出器
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赤外サーモグラフィ
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高輝度赤色レーザ
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GHz光源
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CNCフライス
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卓上精密切断機
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卓上研磨機
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